AW: [Eci] Linearisierung CTP-Plattenbelichter
by Bestmann, Guenter 3887 S-PN-RD11
Man betrachtet hier die TWZ zwischen den Daten und den Werten im Druck. Offsetprozesse auf gestrichenem Papier haben eine TWZ von etwa 13%, ungestrichene Papiere von etwa 19% in den Buntfarben (Schwarz etwa 3% mehr) bei 60er Raster. Höhere Raster haben dann eine höhere TWZ. Informationen dazu findet man im ProzessStandard Offsetdruck des BVDM.
Für die Plattenbelichtung heißt das nicht, das die Platte nun diesen TWZ hat. Der ergibt sich zu "irgendwelchen" Werten in Abhängigkeit vom konkreten Druckprozess (Druckmaschine mit Farben und Papier). Der Begriff Linearisierung ist daher an dieser Stelle nicht korrekt, es muss hier vielmehr Prozesskalibrierung heissen. Wenn diese Prozesskalibrierung im RIP durchgeführt wurde, kann man mit einem geeigneten Instrument die Flächendeckung auf der Platte messen und deren TWZ bestimmen. Mit diesen Werten kann dann eine Kontrolle des Belichters bei weiteren Plattenbelichtungen duchgeführt werden.
Mit freundlichem Gruß
Dr. Günter Bestmann
Heidelberger Druckmaschinen AG
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Von: Ron Süßmann [mailto:ron.suessmann@neppe.de]
Gesendet: Montag, 16. Juni 2003 12:38
An: eci(a)lists.transmedia.de
Betreff: AW: [Eci] Linearisierung CTP-Plattenbelichter
Woher stammen die Sollwerte für die Tonwertzunahme? Die Werte erscheinen
mir auf den ersten Blick z.B. im 40%-Bereich (+13%) sehr hoch, oder?
-----Ursprüngliche Nachricht-----
Von: eci-admin(a)lists.transmedia.de
[mailto:eci-admin@lists.transmedia.de] Im Auftrag von Andreas Kraushaar
Gesendet: Mittwoch, 11. Juni 2003 11:42
An: eci(a)lists.transmedia.de
Betreff: Re: [Eci] Linearisierung CTP-Plattenbelichter
hier sind sie:-)))
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